陶瓷電容器損耗因素與頻率的關系
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陶瓷電容器損耗因素與頻率的關系:第一類陶瓷介質(zhì)電容器的損耗因素隨著頻率的上升而增加,第一類介質(zhì)的C0G介質(zhì)的損耗因素與電容量、頻率的關系,由于電容量的增加容抗減小,使電容器在同樣的頻率下?lián)p耗因素隨電容量的增加而變大。相同電容量的電容器損耗因數(shù)隨頻率增加而變大。實際上C0G介質(zhì)的介質(zhì)損耗在應用頻率內(nèi)不隨頻率變化。
損耗因素隨頻率增加的原因是:在電容器的端電壓不變的條件下測量損耗因素時,隨著頻率的增加,電容器電流隨之增加,因而在電容器的ESR產(chǎn)生的損耗也隨之增加。當頻率高過某一數(shù)值后,由ESR產(chǎn)生的損耗成為主要損耗,這時的損耗因素將隨頻率線性上升。
第二類陶瓷介質(zhì)電容器的損耗因素隨頻率的變化特性與第一類介質(zhì)基本相似,不再贅述。
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