電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。今天主要說的是電容器,電阻器和電感。
電容器失效模式與機(jī)理
電容器的常見失效模式有:擊穿短路;致命失效開路;致命失效電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等);部分功能失效漏液;部分功能失效引線腐蝕或斷裂;致命失效絕緣子破裂;致命失效絕緣子表面飛弧;部分功能失效,引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同,失效機(jī)理也各不一樣。
引起電容器擊穿的主要失效機(jī)理①電介質(zhì)材料有疵點(diǎn)或缺陷,或含有導(dǎo)電雜質(zhì)或?qū)щ娏W?;②電介質(zhì)的電老化與熱老化;③電介質(zhì)內(nèi)部的電化學(xué)反應(yīng);④銀離子遷移;⑤電介質(zhì)在電容器制造過程中受到機(jī)械損傷;⑥電介質(zhì)分子結(jié)構(gòu)改變;⑦在高濕度或低氣壓環(huán)境中極間飛弧;⑧在機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路。
電容過電壓失效的防范
電容器在過壓狀態(tài)下容易被擊穿,而實(shí)際應(yīng)用中的瞬時(shí)高電壓是經(jīng)常出現(xiàn)的。
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電阻器失效模式與機(jī)理
失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為1) 開路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落,基體斷裂,引線帽與電阻體脫落。2) 阻值漂移超規(guī)范:電阻膜有缺陷或退化,基體有可動鈉離子,保護(hù)涂層不良。3) 引線斷裂:電阻體焊接工藝缺陷,焊點(diǎn)污染,引線機(jī)械應(yīng)力損傷。4) 短路:銀的遷移,電暈放電。
電感失效分析電感器失效模式:電感量和其他性能的超差、開路、短路
模壓繞線片式電感失效機(jī)理:
1.磁芯在加工過程中產(chǎn)生的機(jī)械應(yīng)力較大,未得到釋放
2.磁芯內(nèi)有雜質(zhì)或空洞磁芯材料本身不均勻,影響磁芯的磁場狀況,使磁芯的磁導(dǎo)率發(fā)生了偏差;
3.由于燒結(jié)后產(chǎn)生的燒結(jié)裂紋;
4.銅線與銅帶浸焊連接時(shí),線圈部分濺到錫液,融化了漆包線的絕緣層,造成短路;
5.銅線纖細(xì),在與銅帶連接時(shí),造成假焊,開路失效。
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